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課程簡介：

白盒測試的核心是波形診斷、器件參數(shù)分析、器件失效機理激發(fā)等內容，通過對具體深入細節(jié)的測試測量，與預期標準參數(shù)、波形對比，發(fā)現(xiàn)其中的隱患。

本課程著重從被測對象的隱患點、外部應力、過渡過程、器件失效機理、工藝隱患等幾個方面展開測試用例設計，既講解了測試用例的思考分析方法，又深入展開了細節(jié)的具體問題點分析。

通過本課程，可以快速積累測試經驗、掌握測試項目的選擇和測試用例的設計方法，為企業(yè)產品通過測試把關的方式實現(xiàn)產品可靠性短期內大幅度的提升保駕護航。

參加對象：

測試工程師、系統(tǒng)工程師、項目經理、技術部經理、研發(fā)高管等

課程大綱

1、測試基礎

1.1、研發(fā)樣機測試與中試樣機測試的區(qū)別

1.2、原理驗證和一致性驗證的判據(jù)區(qū)別

1.3、測試的工具方法類型（模擬測試、仿真、工程計算、規(guī)范審查）

1.4、基于單一故障的接口故障分析及測試模擬方法

1.5、測試覆蓋率與MECE方法

2、波形診斷

2.1、電路常見異常波形的種類

2.2、回勾波形的成因與應對措施

2.3、過沖波形的成因與應對措施

2.4、振蕩波形的成因與應對措施

2.5、平臺波形的成因與應對措施

2.6、塌陷波形的成因與應對措施

2.7、鼓包波形的成因與應對措施

3、參數(shù)計算與審查

3.1、WCCA參數(shù)分析

3.2、容差計算

3.3、蒙特卡洛分析方法

3.4、降額審查

3.5、熱測試與計算

3.6、常用各類電路里器件參數(shù)計算審查（電容、電感、磁珠、電阻、開關管等）

4、一致性測試及測試數(shù)據(jù)分析

4.1、批次數(shù)據(jù)分析

4.2、正態(tài)分布的工程意義

4.3、各種異化正態(tài)分布曲線的含義與機理

5、單一故障分析與模擬測試

5.1、設計調查表

5.2、用戶現(xiàn)場環(huán)境條件（環(huán)境對產品零部件的失效影響及模擬測試方法）

5.3、人機接口條件（操作者認知與習慣的潛在隱患防護）

5.4、關聯(lián)設備的相互影響（能量與信號輸入輸出的相互潛在影響及模擬測試方法）

6、基于失效機理的應力測試

6.1、常用器件、部件零件的失效機理和失效誘發(fā)應力

6.2、針對失效機理的模擬測試用例設計

7、軟件測試

7.1、路徑覆蓋的測試用例設計方法

7.2、數(shù)據(jù)覆蓋的測試用例設計方法

7.3、黑盒測試與白盒測試的測試用例設計方法

8、器件質量控制測試

8.1、光學檢測

8.2、參數(shù)測試與統(tǒng)計分析

8.3、IV曲線測試

9、標準符合性測試

9.1、通用標準測試項目

9.2、安規(guī)（通用安規(guī)要求、安規(guī)測試判據(jù)、氣、液、電混合布局安規(guī)測試用例）

9.3、電磁兼容

9.4、產品內部不同類型模塊之間的相互影響檢查與測試

10、基于失效機理的應力測試

10.1、常用器件、部件零件的失效機理和失效誘發(fā)應力

10.2、針對失效機理的模擬測試用例設計

11、應力變化率測試

11.1、環(huán)境應力變化率的影響

11.2、負載應力變化率的影響

11.3、能量及信號輸入變化率的影響

11.4、過渡過程應力對設備故障的影響

12、組合應力測試

現(xiàn)場多應力組合示例

13、器件失效特征規(guī)律和故障原因分析方法

13.1、電流應力與電壓應力的故障特征區(qū)別

13.2、突發(fā)浪涌應力與持續(xù)過電應力的故障特征區(qū)別

武老師

電子工程碩士，研究領域：電子產品系統(tǒng)可靠性設計與測試技術。

曾任航天二院總體設計所主任設計師、高級項目經理，機電制造企業(yè)研發(fā)總監(jiān)、事業(yè)部總監(jiān)，北京市級優(yōu)秀青年工程師，科協(xié)委員。

有電子產品、軍工、通信等專業(yè)方向的設計、測評和技術管理經歷，對產品系統(tǒng)設計、可靠性設計、技術管理有較深入研究，曾在學術會議及多家技術刊物發(fā)表專業(yè)文章。

曾為比亞迪、中電30所、29所、北京華峰測控、北京航天長峰、普析通用儀器、航天二院23所、航天五院、株洲車輛研究所、北大青鳥環(huán)宇、惠州德賽、陜西華經微電子、西安工業(yè)集團公司、松下電工、航盛電子等企業(yè)提供專業(yè)技術和技術管理輔導、培訓和咨詢。

較擅長于將高深的理論知識轉化為符合企業(yè)技術和經營特性的可操作實踐方法.

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